Equipamento de teste de alto desempenho responde às exigências da nova geração de servidores de IA generativa e aplicações de memória de larga largura de banda.
A Teradyne, Inc. (NASDAQ: TER), líder mundial em equipamentos de teste automatizado e robótica avançada, anunciou oficialmente o lançamento do Magnum 7H, o seu mais recente sistema de teste de memória de próxima geração. Este novo equipamento foi concebido para responder às exigências crescentes dos dispositivos de memória de alta largura de banda (HBM), utilizados em GPUs e aceleradores para servidores de alto desempenho, nomeadamente em aplicações de inteligência artificial generativa.
O Magnum 7H combina elevada paralelização, alta velocidade e precisão no teste de dispositivos HBM empilhados, permitindo testes eficientes em larga escala e assegurando elevados níveis de qualidade e fiabilidade dos componentes. A Teradyne já iniciou os envios em volume e a produção com o Magnum 7H em colaboração com os principais fabricantes de HBM a nível mundial.
“Estamos entusiasmados por apresentar o Magnum 7H, um equipamento revolucionário que estabelece um novo padrão para o teste de dispositivos HBM,” afirmou Young Kim, Presidente da Divisão de Teste de Memória da Teradyne. “Esta inovação representa um marco importante no nosso compromisso com o avanço da tecnologia de teste de memória, com um sistema preparado não só para os dispositivos de hoje, mas também para os do futuro.”
Compatibilidade, cobertura e rendimento superiores
O Magnum 7H oferece suporte a um vasto leque de versões HBM — incluindo HBM2E, HBM3, HBM3E, HBM4 e HBM4E — e garante uma cobertura de teste completa, desde o teste de wafer base à análise do núcleo de memória e ao burn-in. O sistema permite ainda o teste de dispositivos pré-singulados ao nível Known-Good-Stack-Die (KGSD) ou Chip-on-Wafer, com sondadores e cartões de teste tradicionais, bem como de dispositivos pós-singulados através de novas soluções de manipulação bare-die, melhorando a qualidade geral do dispositivo.
Principais capacidades do Magnum 7H:
- Qualidade de Dispositivo Otimizada: Resposta superior do sistema de alimentação (DPS) proporciona maiores rendimentos.
- Teste Abrangente de Memória e Lógica: Equipado com gerador algorítmico de padrões (APG) e memória vetorial lógica (LVM), permitindo testes de alta velocidade tanto de DRAM como dos dies de lógica base.
- Desempenho Elevado: Capaz de testar dispositivos até 4,5 Gbps, cobrindo as exigências do HBM3/3E atual e do HBM4/4E futuro.
- Alta Paralelização: Configurável com até 9.216 pinos digitais e 2.560 pinos de alimentação, melhora a eficiência no ponto de contacto e aumenta a produtividade em 1,6x em ambientes de produção em massa.
Resposta às exigências da era da IA
Com a crescente procura de soluções de alto desempenho e eficiência energética em aplicações de infraestrutura em nuvem e IA, os dispositivos HBM tornaram-se essenciais. O Magnum 7H surge como uma solução robusta e escalável, pronta para testar as tecnologias de memória mais exigentes da atualidade — e da próxima geração.
A Teradyne estará presente na Flash Memory Summit 2025 (FMS), no stand 646, onde apresentará o Magnum 7H e a sua gama completa de soluções de teste de memória.
Mais informações sobre o Magnum 7H estão disponíveis em: www.teradyne.com/products/magnum-7h.
Para mais detalhes clica aqui.
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